夾雜物最惡劣視場法
普及型GX53奧林巴斯倒置顯微鏡
層厚度測量
光源以及配件
Presi制樣設備
面積法晶粒度
正立式BX53M奧林巴斯金相顯微鏡
孔隙率
輔助聚焦裝置
OLS5100激光共焦顯微鏡
截點法晶粒度
Linkam顯微鏡熱臺
清潔度分析系統CIX100
PCB電鍍分布能力
DP27
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鑄鐵
奧林巴斯測量顯微鏡
圖譜對照
DP22
奧林巴斯測量顯微鏡STM7
普及型連續變倍SZ系列
Prior程序控制電動載物臺
DSX1000數碼顯微鏡
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奧林巴斯清潔度分析系統
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偏光顯微鏡BX53P
即時景深擴展(EFI)
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